第三方线宽变化检测机构北京中科光析科学技术研究所可以提供半导体晶圆布线、集成电路金属层、MEMS器件梁结构、显示面板电极、PCB微细线路、光掩模图形、传感器栅极等20+项检测。能够出具线宽变化检测报告,本所拥有CMA检测资质和国家高新技术企业证书,实验室工程师将为您提供定制检测服务。
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