第三方深紫外半导体材料检测机构北京中科光析科学技术研究所科研分析检测中心可以进行氟化钙(CaF₂)深紫外单晶衬底、氮化铝(AlN)透明陶瓷窗口片、蓝宝石紫外窗口片、深紫外光刻胶及配套试剂、高纯氟化镁(MgF₂)镀膜材料、碳化硅(SiC)外延片缺陷、氮化镓(GaN)基微LED外延层等20+项检测。一般7-15天出具深紫外半导体材料检测报告。中析研究所旗下实验室拥有CMA检测资质及CNAS检测证书和ISO证书等荣誉资质。
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