标准简介
标准号:GB/T 41153-2021
中国标准分类号:H17
标准发布日期:2021-12-31
国际标准分类号:77.040
实施日期:2022-07-01
标准分类:冶金金属材料试验
标准详情
国家标准《碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件规定了碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的二次离子质谱测试方法。
本文件适用于碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的定量分析,测定范围为硼含量不小于5×10ˇ13 cmˇ-3、铝含量不小于5×10ˇ13 cmˇ-3、氮含量不小于5×10ˇ15 cmˇ-3,元素浓度(原子个数百分比)不大于1%。
其他相关标准
GB/T30656-2014碳化硅单晶抛光片
需要本项目的检测方案?
在线咨询工程师,获取针对样品的检测方案与报价建议
立即咨询工程师