标准列表（部分）
《 GB/T 44004-2024 纳米技术 有机晶体管和材料表征试验方法 》标准简介
- 标准名称：纳米技术 有机晶体管和材料表征试验方法
- 标准号：GB/T 44004-2024
- 中国标准分类号：L90
- 发布日期：2024-04-25
- 国际标准分类号：07.030
- 实施日期：2024-11-01
- 技术归口：全国纳米技术标准化技术委员会
- 代替标准：
- 主管部门：中国科学院
- 标准分类：数学、自然科学物理学、化学
- 内容简介：
国家标准《纳米技术 有机晶体管和材料表征试验方法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。
本文件描述了一种表征有机晶体管的方法，包括测量技术、数据报告方法和表征过程的测试条件。
本文件适用于有机晶体管的电学特性测量。
《 SJ 21120-2016 高电子迁移率晶体管用半绝缘砷化镓抛光片规范 》标准简介
- 标准名称：高电子迁移率晶体管用半绝缘砷化镓抛光片规范
- 标准号：SJ 21120-2016
- 中国标准分类号：L40
- 发布日期：2016-01-19
- 国际标准分类号：25.220
- 实施日期：2016-03-01
- 技术归口：工业和信息化部电子第四研究院
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：机械制造SJ 电子
- 内容简介：
本规范规定了高电子迁移率晶体管用半绝缘砷化镓抛光片的全部要求。本规范适用于高电子迁移率晶体管用直径100mm半绝缘砷化镓抛光片(以下简称砷化镓抛光片)。
《 SJ/T 11056-1996 电子元器件详细规范 4CS1191型硅高频双绝缘栅场效应晶体管（可供认证用） 》标准简介
- 标准名称：电子元器件详细规范 4CS1191型硅高频双绝缘栅场效应晶体管（可供认证用）
- 标准号：SJ/T 11056-1996
- 中国标准分类号：L44
- 发布日期：2010-02-25
- 国际标准分类号：31.020
- 实施日期：1997-01-01
- 技术归口：
- 代替标准：代替GB 10275-1988
- 主管部门：
- 标准分类：电子学SJ 电子
- 内容简介：
《 SJ 50033.40-1994 GT11型半导体硅NPN光敏晶体管详细规范 》标准简介
- 标准名称：GT11型半导体硅NPN光敏晶体管详细规范
- 标准号：SJ 50033.40-1994
- 中国标准分类号：L54
- 发布日期：1994-09-30
- 国际标准分类号：31.260
- 实施日期：1994-12-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：电子学SJ 电子
- 内容简介：
《 SJ 20063-1992 半导体分立器件.3DG213型NPN硅超高频低噪声双差分对晶体管.详细规范 》标准简介
- 标准名称：半导体分立器件.3DG213型NPN硅超高频低噪声双差分对晶体管.详细规范
- 标准号：SJ 20063-1992
- 中国标准分类号：L40
- 发布日期：1992-11-19
- 国际标准分类号：31.080
- 实施日期：1993-05-01
- 技术归口：中国电子技术标准化研究所
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：电子学SJ 电子
- 内容简介：
《 QJ 2617-1994 微波场效应晶体管(微波FET)管壳验收规范 》标准简介
- 标准名称：微波场效应晶体管(微波FET)管壳验收规范
- 标准号：QJ 2617-1994
- 中国标准分类号：V25
- 发布日期：1994-03-26
- 国际标准分类号：31.080
- 实施日期：1994-10-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：电子学QJ 航天
- 内容简介：
《 QJ 2567-1993 3DK50型NPN硅功率开关.晶体管详细规范 》标准简介
- 标准名称：3DK50型NPN硅功率开关.晶体管详细规范
- 标准号：QJ 2567-1993
- 中国标准分类号：V25
- 发布日期：1993-03-30
- 国际标准分类号：31.080
- 实施日期：1993-10-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：电子学QJ 航天
- 内容简介：
本规范规定了3DK50A~Ⅰ型NPN硅功率开关晶体管(以下简称器件)的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。
《 QJ 2568-1993 CS4416A型硅N沟道场效应.晶体管详细规范 》标准简介
- 标准名称：CS4416A型硅N沟道场效应.晶体管详细规范
- 标准号：QJ 2568-1993
- 中国标准分类号：V25
- 发布日期：1993-03-30
- 国际标准分类号：31.080
- 实施日期：1993-10-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：电子学QJ 航天
- 内容简介：
本规范规定了CS4416A型硅N沟道场效应晶体管(以下简称器件)的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。
《 GB/T 15651.7-2024 半导体器件 第5-7部分：光电子器件 光电二极管和光电晶体管 》标准简介
- 标准名称：半导体器件 第5-7部分：光电子器件 光电二极管和光电晶体管
- 标准号：GB/T 15651.7-2024
- 中国标准分类号：L53
- 发布日期：2024-03-15
- 国际标准分类号：31.260
- 实施日期：2024-07-01
- 技术归口：工业和信息化部（电子）
- 代替标准：
- 主管部门：工业和信息化部（电子）
- 标准分类：电子学光电子学、激光设备
- 内容简介：
国家标准《半导体器件 第5-7部分：光电子器件 光电二极管和光电晶体管》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件规定了光电二极管（以下简称“PDs”）和光电晶体管（以下简称“PTs”）的术语、基本额定值和特性以及测试方法。本文件适用于光电二极管和光电晶体管。
《 T/CASAS 005-2022 用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法 》标准简介
- 标准名称：用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法
- 标准号：T/CASAS 005-2022
- 中国标准分类号：/C398
- 发布日期：2022-09-16
- 国际标准分类号：31.080.01
- 实施日期：2022-09-16
- 团体名称：北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
- 标准分类：电子学C 制造业
- 内容简介：
本文件规定了用于硬开关切换电路的氮化镓（GaN）高电子迁移率晶体管（HEMT）动态导通电阻测试方法
本文件适用于进行GaNHEMT的生产研发、特性表征、量产测试、可靠性评估及应用评估等工作场景
可应用于以下器件：a)GaN增强型和耗尽型分立电力电子器件；b)GaN集成功率电路；c)以上的晶圆级及封装级产品
本文件规定了用于硬开关切换电路的氮化镓（GaN）高电子迁移率晶体管（HEMT）动态导通电阻测试方法。本文件适用于进行GaNHEMT的生产研发、特性表征、量产测试、可靠性评估及应用评估等工作场景。可应用于以下器件：a) GaN增强型和耗尽型分立电力电子器件；b) GaN集成功率电路；c) 以上的晶圆级及封装级产品。
《 JJF(电子)0077-2021 晶体管特征频率测试仪校准规范 》标准简介
- 标准名称：晶体管特征频率测试仪校准规范
- 标准号：JJF(电子)0077-2021
- 标准状态：现行
- 发布日期：2021-12-02
- 归口单位
- 实施日期：2021-12-02
- 发布部门：国家市场监督管理总局
- 代替标准：
- 标准类别：计量检定规程
- 文件格式：纸质版或者PDF电子版（用Acrobat Reader打开）或Word版本doc格式
- 内容简介：
本本规范适用于晶体管特征频率测试仪的校准。晶体管特征频率FT参数定义为共射极输出交短路电流放大倍数|Β|随频率增加而下降到1时的工作频率,反映了晶体管共发射输出具有电流放大作用的频率极限,是晶体管的一个重要频率特性参数。晶体管特征频率测试仪是晶体管特征频率FT参数测试的专用仪器,采用“带宽—增益乘积”的原理进行设计,主要由施加高频信号、偏置电压源、IB电流源、IC电流源和测量显示单元等部分组成,具有测量范围宽,精度高、稳定可靠、操作简便等特点。
《 JJF(电子) 31001-2006 双级型晶体管开关参数计量样管校准规范 》标准简介
- 标准名称：双级型晶体管开关参数计量样管校准规范
- 标准号：JJF(电子) 31001-2006
- 标准状态：现行
- 发布日期：
- 归口单位
- 实施日期：
- 发布部门：国家市场监督管理总局
- 代替标准：
- 标准类别：计量检定规程
- 文件格式：纸质版或者PDF电子版（用Acrobat Reader打开）或Word版本doc格式
- 内容简介：
《 JJG(浙) 4-1986 jt-1型晶体管特性图求仪试行检定规程 》标准简介
- 标准名称：jt-1型晶体管特性图求仪试行检定规程
- 标准号：JJG(浙) 4-1986
- 标准状态：已作废
- 发布日期：
- 归口单位
- 实施日期：
- 发布部门：国家市场监督管理总局
- 代替标准：
- 标准类别：计量检定规程
- 文件格式：纸质版或者PDF电子版（用Acrobat Reader打开）或Word版本doc格式
- 内容简介：
《 JJG(电子) 31013-2007 双极型晶体管开关时间参数测试系统检定规程 》标准简介
- 标准名称：双极型晶体管开关时间参数测试系统检定规程
- 标准号：JJG(电子) 31013-2007
- 标准状态：现行
- 发布日期：
- 归口单位
- 实施日期：
- 发布部门：国家市场监督管理总局
- 代替标准：被JJF(电子)0001-2015代替
- 标准类别：计量检定规程
- 文件格式：纸质版或者PDF电子版（用Acrobat Reader打开）或Word版本doc格式
- 内容简介：
检测优势
检测资质（部分）
检测实验室（部分）
合作客户（部分）
检测报告作用
1、可以帮助生产商识别产品的潜在问题或缺陷，并及时改进生产工艺，保障产品的品质和安全性。
2、可以为生产商提供科学的数据，证明其产品符合国际、国家和地区相关标准和规定，从而增强产品的市场竞争力。
3、可以评估产品的质量和安全性，确保产品能够达到预期效果，同时减少潜在的健康和安全风险。
4、可以帮助生产商构建品牌形象，提高品牌信誉度，并促进产品的销售和市场推广。
5、可以确定性能和特性以及元素，例如力学性能、化学性质、物理性能、热学性能等，从而为产品设计、制造和使用提供参考。
6、可以评估产品是否含有有毒有害成分，以及是否符合环保要求，从而保障产品的安全性。
检测流程
1、中析研究所接受客户委托，为客户提供检测服务
2、客户可选择寄送样品或由我们的工程师进行采样，以确保样品的准确性和可靠性。
3、我们的工程师会对样品进行初步评估，并提供报价，以便客户了解检测成本。
4、双方将就检测项目进行详细沟通，并签署保密协议，以保证客户信息的保密性。在此基础上，我们将进行测试试验.
5、在检测过程中，我们将与客户进行密切沟通，以便随时调整测试方案，确保测试进度。
6、试验测试通常在7-15个工作日内完成，具体时间根据样品的类型和数量而定。
7、出具检测样品报告，以便客户了解测试结果和检测数据，为客户提供有力的支持和帮助。
以上为晶体管检测,检测标准的检测内容，如需更多内容以及服务请联系在线工程师。
